File:Kelvin probe force microscopy.svg
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原始文件 （SVG文件，尺寸为860 × 470像素，文件大小：83 KB）
摘要
| 描述 | In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonance of the cantilever. The cantilever is driven into oscillation by electrostatic forces where the DC potential difference between the surface and the cantilever is non-zero. Using a four-quadrant detector and an A/D to detect cantilever motion, the feedback circuit drives the DC signal to the surface potential, minimizing cantilever motion and resulting in a map of the work function of the surface. |
| 日期 | March 1, 2008 (UTC+0100) |
| 来源 | 自己的作品 |
| 作者 | Inkwina (留言 · 贡献) |
| 其他版本 |
此文件衍生的作品： Kelvin probe force microscopy DE.svg Image:Kpfm.png |
Credit
Based on Image:Kpfm.png drawn by Alison Chaiken using the xfig program. Originally uploaded as w:Kpfm.png.
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| 日期/时间 | 缩略图 | 大小 | 用户 | 备注 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 当前 | 2008年3月1日 (六) 16:53 | | 860 × 470（83 KB） | Inkwina | Fixed SVG |
| 2008年3月1日 (六) 16:21 |  | 860 × 470（84 KB） | Inkwina | {{Information |Description=In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinu |
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