在測度論中,法圖引理說明了一個函數列的下極限的積分(在勒貝格意義上)和其積分的下極限的不等關係。法圖引理的名稱來源於法國數學家皮埃爾·法圖(Pierre Fatou),被用來證明測度論中的法圖-勒貝格定理和勒貝格控制收斂定理。
設為一個測度空間, 是一個實值的可測正值函數列。那麼:
其中的函數極限是在逐點收斂的意義上的極限,函數的取值和積分可以是無窮大。
定理的證明基於單調收斂定理(非常容易證明)。設為函數列 的下極限。對每個正整數,逐點定義下極限函數:
於是函數列單調遞增並趨於 。
任意,我們有,因此
於是
據此,由單調收斂定理以及下極限的定義,就有:
令為測度空間中的一列可測函數,函數的值域為擴展實數(包括無窮大)。如果存在一個在 上可積的正值函數,使得對所有的都有,那麼
這裏只需弱可積,即。
證明:對函數列應用法圖引理即可。
法圖引理不僅對取正值的函數列成立,在一定限制條件下,可以擴展到任意的實值函數。令為測度空間中的一列可測函數,函數的值域為擴展實數(包括無窮大)。如果存在一個在上可積的正值函數,使得對所有的都有,那麼
證明:對函數列應用法圖引理即可。
在以上的條件下,如果函數列在上μ-幾乎處處逐點收斂到一個函數,那麼
證明:是函數列的極限,因此自然是下極限。此外,零測集上的差異對於積分值沒有影響。
如果函數列在上依測度收斂到,那麼上面的命題仍然成立。
證明:存在的一個子列使得
這個子列仍然依測度收斂到,於是又存在這個子列的一個子列在上μ-幾乎處處逐點收斂到,於是命題成立。
- H.L. Royden, "Real Analysis", Prentice Hall, 1988.