自動光學檢查

自動光學檢查（英語：Automated Optical Inspection，簡稱AOI），為高速高精度光學影像檢測系統，運用機器視覺做為檢測標準技術，作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點，應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管，以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。

自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法，利用光學儀器取得成品的表面狀態，再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵，因為是非接觸式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。高精度光學影像檢測系統，包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術應用等領域，其開發應用不但符合高科技產業發展需求，其技術層面更可擴展至國防軍事工業，舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等，都與此影像技術息息相關。

基本架構

自動光學檢測設備組成部位：

光學部分：
- CCD Camera（檢測鏡頭）──
- 光源（上下光源打光）──
- Review Camera（複檢確認鏡頭）──

系統主機部分（由个人电脑與週邊組成）：
- CIM系統主機──
- 系統主機螢幕──
- 瑕疵檢查主機──
- 瑕疵檢查主機螢幕──

網路連結
- 集線器（Hub）──
- Network──乙太網路、CC-Link

動力控制部分
- 伺服驅動機構
- 可程式邏輯控制器（PLC）或PC Base控制主機

應用

AOI技術領域非常廣泛，廣義的AOI為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體，應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。

狹義的AOI則指目前大量應用工業自動化的LCD/TFT、電晶體與PCB工業製程上的光學檢測設備，以及在IC及一般電子業、機械工具/自動化機械、電機/電子工業、金屬鋼鐵業、食品加工/包裝業、紡織皮革工業、汽車工業、建築材料、保全/監視等的自動光學結合影像處理的系統。

發展趨勢

技術規格

完整行程須在60 秒內（甚至更短）
錯誤判斷發生率的降低（避免操作人員的重複檢查）
盡可能的減少稼動損失（例如減少交換被檢查單元的時間）
提高模糊比對的功能
影像解析度不斷提高
可檢測出週邊線路（以往只需要檢測面板內部）
可儲存面板的瑕疵影像
自動分類瑕疵

設備功能

可輸出分析表格與圖形
可檢出Mura（英语：Mura (Japanese term)）瑕疵功能
可處理修補瑕疵功能

参考連結

參照

參考文獻

陳茂成，“從國際FPD 產業趨勢看國內發展商機與挑戰”，工研院IEK 產業情報網，2004 年12 月。
黃仲龍，“提昇LCD 設備自製率議題評析”，工研院IEK 產業情報網，2004 年11 月。
五十嵐大作，小田切章，久保哲夫， “The Latext Optical Inspection Equipment that influences the Yield of Large-screen, Flat-screen TV Production”, 14th FPD manufacturing technology expo& conference, Tokyo Big Sight, Tower Bldg., Japan, July, 2004.
張鈞傑，黃俊堯，鄭晃忠，“缺陷檢測技術在液晶顯示器製造之應用”，科儀新知，25 卷第二期，第23 頁至35 頁，2003 年10 月。
林道榮，“薄膜電晶體液晶面板自動光學檢測設備發展概況”，台灣工銀金融電子週報，2004 年06 月。
Jung-Hun Kim, Suk Ahn, Jae Wook Jeon, Jong-Eun Byun, “A highspeed high-resolution vision system for the inspection of TFT LCD”, IEEE International Symposium on Industrial Electronics, Proceedings. ISIE 2001, vol.1, pp101-105, 2001.
黃仲龍，“LCD 設備產業發展概況與發展機會”，機械工業雜誌，256 期，2004 年7 月。
K. Nakashima, “Hybrid Inspection System for Color Filter Planes”,Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Hamamatsu, Japan, Vol. 2, pp. 689-692 ,1994.