自动光学检查

自动光学检查（英语：Automated Optical Inspection，简称AOI），为高速高精度光学影像检测系统，运用机器视觉做为检测标准技术，作为改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点，应用层面包括从高科技产业之研发、制造品管，以至国防、民生、医疗、环保、电力…等领域。

自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学仪器取得成品的表面状态，再以电脑影像处理技术来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间工程检查半成品。高精度光学影像检测系统，包含量测镜头技术、光学照明技术、定位量测技术、电子电路测试技术、影像处理技术及自动化技术应用等领域，其开发应用不但符合高科技产业发展需求，其技术层面更可扩展至国防军事工业，举凡兵工武器制造、夜视作战系统、战略地形形貌之分析与研判等，都与此影像技术息息相关。

基本架构

自动光学检测设备组成部位：

光学部分：
- CCD Camera（检测镜头）──
- 光源（上下光源打光）──
- Review Camera（复检确认镜头）──

系统主机部分（由个人电脑与周边组成）：
- CIM系统主机──
- 系统主机萤幕──
- 瑕疵检查主机──
- 瑕疵检查主机萤幕──

网路连结
- 集线器（Hub）──
- Network──乙太网路、CC-Link

动力控制部分
- 伺服驱动机构
- 可程式逻辑控制器（PLC）或PC Base控制主机

应用

AOI技术领域非常广泛，广义的AOI为结合光学感测系统、讯号处理系统及分析软体，应用层面可包括宇宙探测、航空、卫星遥测、生物医学、工业生产品质检测、指纹比对、机器人控制、多媒体技术。

狭义的AOI则指目前大量应用工业自动化的LCD/TFT、电晶体与PCB工业制程上的光学检测设备，以及在IC及一般电子业、机械工具/自动化机械、电机/电子工业、金属钢铁业、食品加工/包装业、纺织皮革工业、汽车工业、建筑材料、保全/监视等的自动光学结合影像处理的系统。

发展趋势

技术规格

完整行程须在60 秒内（甚至更短）
错误判断发生率的降低（避免操作人员的重复检查）
尽可能的减少稼动损失（例如减少交换被检查单元的时间）
提高模糊比对的功能
影像解析度不断提高
可检测出周边线路（以往只需要检测面板内部）
可储存面板的瑕疵影像
自动分类瑕疵

设备功能

可输出分析表格与图形
可检出Mura（英语：Mura (Japanese term)）瑕疵功能
可处理修补瑕疵功能

参考连结

参照

参考文献

陈茂成，“从国际FPD 产业趋势看国内发展商机与挑战”，工研院IEK 产业情报网，2004 年12 月。
黄仲龙，“提升LCD 设备自制率议题评析”，工研院IEK 产业情报网，2004 年11 月。
五十岚大作，小田切章，久保哲夫， “The Latext Optical Inspection Equipment that influences the Yield of Large-screen, Flat-screen TV Production”, 14th FPD manufacturing technology expo& conference, Tokyo Big Sight, Tower Bldg., Japan, July, 2004.
张钧杰，黄俊尧，郑晃忠，“缺陷检测技术在液晶显示器制造之应用”，科仪新知，25 卷第二期，第23 页至35 页，2003 年10 月。
林道荣，“薄膜电晶体液晶面板自动光学检测设备发展概况”，台湾工银金融电子周报，2004 年06 月。
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